TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W trzydniowym spotkaniu w Karpaczu wzięli udział studenci i naukowcy z Katedry Nanometrologii na Wydziale Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów (13-15 maja) oraz goście z spoza uczelni, reprezentujący m.in. Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki Sieci Badawczej Łukasiewicz w Warszawie.
Uczestnicy rozmawiali na najbardziej aktualne tematy, dotyczące metod i technik pomiarowych, przedstawiono możliwe drogi rozwoju dla prowadzonych badań. Prezentacje dotyczyły m.in. możliwości pomiarów drewna przy pomocy mikroskopii bliskich oddziaływań, wykorzystania jonów gazów szlachetnych w mikroskopii skaningowej czy czujników światłowodowych w żeglarstwie morskim.
Studenci zaangażowani w prace SPENT-u przedstawili wyniki prowadzonych przez siebie prac oraz plany kolejnych aktywności.
Seminarium przygotowali doktoranci - Ewelina Gacka, Krzysztof Kwoka i Julia Pruchnik przy wsparciu prof. Teodora Gotszalka, kierownika katedry.